利用案内

学外利用者

九州大学以外の方で当センターの利用を希望される場合には以下の窓口があります。

文部科学省「ナノテクノロジープラットフォーム」

対象装置 超高圧電顕(JEM-1300NEF)、収差補正電顕(JEM-ARM200F)、広電圧電顕(JEM-ARM200CF)、3次元電顕(JEM-3200FSK)、ローレンツ電顕(TECNAIG2-F20)、デジタル電顕(TECNAI-20)、マイクロカロリーメーター分析SEM(TES+ULTRA55)、デュアルビームFIB試料作製装置(Quanta3D200i)他
成果公開の有無 公開が原則、但し猶予期間有

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会員制研究支援組織「先端電子顕微鏡フォーラム」

対象装置 ホログラフィー電子顕微鏡を除くセンター所有のすべての装置
サービス内容 情報サービス/コンサルティング/教育・研修支援/研究・技術支援
成果公開の有無 成果非公開も可能

「超高圧電子顕微鏡(JEM-1300NEF)の使用について」(PDF)

超高圧電子顕微鏡をご利用の際は、初めて実験を行う予定日の2週間前までに以下の提出が必要です。

  1. 放射線業務従事者登録申請書兼放射線作業従事者証明書DL
    ※上記記入例はこちら
  2. エックス線実験計画書DL
    ※上記記入例はこちら

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文部科学省「アトミックスケール電磁場解析プラットフォーム」

対象装置 ホログラフィー電子顕微鏡(HF-3300X)

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