第221回 HVEM研究会のお知らせ

2018年7月26日

【日　　時】平成３０年８月２日（木）１５時００分 ～ １７時３０分

【会　　場】九州大学筑紫キャンパス　総理工　総理工第３講義室

【講　演１】 古賀 一石（カールツァイス株式会社 ストラテジックマーケティング）
　　　　 　　 高い解像力で非破壊内部構造観察を可能とするX線顕微鏡

【講　演２】 Dr.Vignesh Viswanathan（Carl Zeiss Pte. Ltd.）
　　　　　 　Beyond Electrochemical Analysis: 2D to 4D Correlation of Structure
　　　　 　　 and Chemistry in Li-ion Batteries

【講　演３】 鈴木　宏輔（群馬大学大学院理工学府電子情報部門　助教）
　　　 　　　コンプトン散乱で明らかにするリチウムイオン電池

【連 絡 先】波多　聰（九州大学大学院総合理工学研究院）
　　　　　　E-mail: hata.satoshi.207@m.kyushu-u.ac.jp

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